| 价格: | 46800.0000 / 台 |
全自动粉体半导电电阻测试仪
全自动粉体半导电电阻测试仪 优化四探针法测量电阻率,关键在于 控制探针参数、优化样品处理、规范操作流程。以下是具体方法:
一、探针参数优化
间距调整:
根据样品厚度选择间距(如厚度>3倍间距时,间距1-2mm为佳)。
间距过大会导致测量区域不均匀,过小会增加接触电阻。
压力控制:
探针压力需适中(一般2kg左右),避免划伤样品或接触不良。
可通过弹簧装置或高度调节旋钮微调压力。
三、操作流程优化
仪器校准:
使用标准电阻片验证仪器精度,调整参数直至误差<1%。
定期检查探针磨损情况,更换断针时确保铜片与绝缘片按原顺序排列。
参数设置:
电流选择:半导体样品选10μA~1mA,金属样品选1~100mA。
测量模式:选择恒流测压或恒压测流模式。
测量技巧:
稳定后测电压,重复3次取平均值以减少误差。
复杂形状样品需结合有限元模拟修正系数或查表校准。
四、环境控制优化
温度稳定:

实验室温度保持25±2℃,避免外界温度变化对测量结果产生干扰。
恒温恒湿环境可减少湿度对电阻率的影响。
防干扰措施:
避免电磁干扰,确保测量区域无强磁场或高频信号。
探针与样品接触点需保持清洁,避免氧化层影响接触电阻。

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