





超声波特点:
1.在空气中不能传播,遇到空气100%反射。
2.超声波在行经介质时,若遇到不同密度或弹性系数物质时,即会产生反射回波的特性,而此种反射回波强度会因材料密度不同而有所差异。
超声波检测原理:
C-SAM检测(超声波检测)即利用此特性来检出材料内部的缺陷并依所接收之讯号变化将之成像。
因此,只要被检测的IC上表面或内部晶片构装材料的界面有离层、空洞、裂缝等缺陷时,即可由C-SAM影像得知缺陷相对位置。

无损检测标准试块的常见类型
根据不同的检测技术,无损检测标准试块有以下常见类型:
1. 超声波试块:用于超声波检测,可模拟不同材料和缺陷类型,评估材料的力学性能和内部结构。
2. 射线试块:用于射线检测,能够模拟不同厚度、材质和缺陷类型的材料,焊接试块,用于评估材料的内部结构和缺陷的形状、大小和位置。
3. 磁粉试块:用于磁粉检测,主要用于检测铁磁性材料的表面和近表面缺陷,如裂纹、气孔等。
4. 涡流试块:用于涡流检测,主要用于检测导电材料的表面和近表面缺陷,如裂纹、夹杂物等。

我们需要了解无损检测试块的制造标准和精度要求。试块的制造应符合相应的标准,如ASTM标准或ISO标准等。这些标准规定了试块的材料、尺寸、精度等要求,以确保试块的质量和可靠性。在进行换算时,需要了解所使用的试块制造标准,以确保换算结果的准确性。在进行换算时,我们需要根据制造标准中规定的计算方法进行计算。

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