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苏州天标检测技术有限公司
主营：金属材料,非金属材料,电子电气产品的检测与分析
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在ANSYS图形界面观察被测物体和目标面是否满意。如果满意并摘要的结尾出现Successful Set-up．Ready to drop．字样，就表示程序数据检查无误，就可以选择Main Menu>Drop Test>Solve命令进行求解。在求解过程中，用户还可以通过Sw系列开关对计算过程进行监控，跌落测试试验，同时获得一些实时统计信息。（4）观察分析结果。一旦计算完成，就可以选择Main Menu>Drop Test>Animate Results命令对跌落物体录制动态结果（如Von Mises应力），同时还可以通过Main Menu>Drop Test>Time History命令观察模型中某个时间点的分析结果。
对于不同国际规范即使产品在相同重量下但掉落高度也不相同，对于手持型产品（如手机， MP3等）大多数掉落高度大都介于100cm ~ 150cm不等，IEC对于≦2kg之手持型产品建议应满足100cm之掉落高度不可损坏，MIL则建议掉落高度为122cm，Intel对手持型产品（如手机）则建议落下高度为150cm。试验的严苛程度取决于跌落高度、跌落次数、跌落方向。
跌落测试分析分成以下几个主要步骤：（1）建立和输入模型。在进入跌落测试分析模块之前，用户必须先建立或输入被测试物体的模型，也就意味着必须定义所有的单元、实常数、材料模型（包括阻尼）等。在建立或输入模型过程中，必须要注意以下几点：1.必须定义材料的密度和弹性模量，并确保数值不能为零，否则程序将无法计算。2.定义阻尼选项，以消除计算过程中的数值振荡。3.避免使用三角、四面体、棱柱单元以及小单元。
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第7年
