






用牛顿环检验一般会有样板,如果是检验光学平板平整度,用的样板就是平面样板。有生产厂家专门做这个的。 检验方法:先将样板标准面和待检验平板表面擦静,然后使这两个面紧密接触,并尽量排除两接触面之间的空气,然后从样板上方观察会发现彩色的光圈环带。图纸上应该有要求你做到几个光圈和几道局部光圈,光学平板,然后就可以知道哪个地方高了哪个地方低了。 除用样板以外,干涉仪也通常用来检测光学零件表面的精度


这种双面加工,光学平板尺寸定制,一般速度不高。下模比较大,上模比较小,挡圈直径比上模大,比下模小。适当地调节上模的摆动量,可以实现平板的上下表面同时精磨或抛光。研磨或抛光时,人工将磨料或抛光粉间断地添加到下模和平板的表面。这种低速的双面加工,比单面加工提高了效率,但被加工的平面度和双面的平行度则达不到很高的要求,光学面包板厂家定制,所以只适用于般精度平板的加工。
随着大规模、超大规模集成电路制造技术的发展,由于大批量半导体硅片加工的需要,国外出现了双面高速加工机床,光学面包板,适用于半导体硅片的双面研磨和抛光,进而被推广到高速研磨抛光光电仪器中的光学平板。

为了提高光学平台使用者对产品质量优劣的鉴别能力,让我们简单的来了解下光学平台的注意事项以及各项指标的意义和检测方法, 光学平台外观:光学平台外观应美观,各部位都应无影响安全的锐角及锐边,更重要的是检查孔口倒角是否均匀一致(螺孔旋入后应垂直平台面),四边及其倒角是否平直一致。如果台面未经过机械加工而是人工打磨 出来的孔口倒角是大小不一致的,沿台面四周边用目测即可看出台面倒角处是弯曲的。

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