






扫描电子显微镜的基本结构:
扫描电子显微镜是运用材料表面微区的特征(如形貌、原子序数、化学成分或者晶体结构等)的差异,在电子束作用下通过试样不同区域产生不同的亮度差异,从而获得具有一定衬度的图像。成像信号是二次电子、背散射电子或者吸收电子,此中二次电子是主要的成像信号。高能电子束轰击样品表面,激发出样品表面的各种物理信号,双束扫描电镜测试中心,再利用不同的接受物理信号转换成图像信息。
扫描电子显微镜除了可以测试二次电子图像之外,还可以测试背散射电子、透射电子、特征x射线以及阴极发光等信号图像。它的成像原理和二次电子像一样。在进行扫描电子显微镜观察之前,要对样品作相应的处理。

全自动扫描电镜对样品的要求
1、样品要尽可能干燥,含有水分或其他易挥发物的试样应先烘干除去;若样品中含有水份,水分挥发会造成仓内真空度急剧下降,导致图像漂移,有白色条纹,甚至会影响灯丝寿命;
2、热稳定性好,热稳定性差的样品往往在电子束的轰击下分解,释放气体和其他物质,污染电镜;
3、导电性好,导电性差的样品会发生荷电效应,造成图像畸变,亮点亮线,双束扫描电镜测试哪家好,像散等;
4、不含强磁性,文山双束扫描电镜测试,强磁性的样品观察一般会出现严重的像散,无法消去,双束扫描电镜测试费用,磁性粉末如果粘的不牢固还可能会吸附到探头上,损害电镜;
5、试样(表面)导电的固体,试样可以是块状或粉未状。不导电的试样,要***行镀膜处理,在材料表面形成一层导电膜;

扫描电子显微镜的原理介绍: 扫描电子显微镜是一种利用高能聚焦电子束扫描样品表面,从而获得样品信息的电子显微镜。因此其使用电子束为照明源,电子束在样品表面扫描,利用电子还有物质作用所产生的信息结合电子光学原理进行成像。判断扫描电镜性能主要根据分辨率还有有效放大倍数。分辨率也就是可以分辨的小距离。扫描电子显微镜(SEM)是一种介于透射电子显微镜与光学显微镜之间的一种观察手段。它是运用聚焦十分窄的高能电子束来扫描样品,通过光束合物质间的相互作用,来激发各种物理信息,对这些信息收集、放大还有再成像为了达到对物质微观形貌表征的目的。


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