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九鼎（天津）新材料科技有限公司
主营：电镜检测
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桌面扫描电镜是操作工程的产品
桌面扫描电镜介于光学显微镜和大型扫描电镜之间，充分满足用户对于大景深高分辨的微观形貌形态观测需要，同时可接配的背散射电子探测器和小型能谱仪满足用户对于微区化学成分分布的表征需要。
桌面扫描电镜占地空间小，操作简单方便，可以类似傻瓜相机来使用，临沂三维重构，zui主要的，小型台式机价格较低，大大促进了电子显微镜在材料研制中的普及应用。桌面扫描电镜20KV二次电子分辨率达到7nm，是目前所有台式扫描电镜的zui高水平。标准配置的两轴马达驱动样品台，全自动真空系统，全自动的电子光学调控系统，可以让用户从开始到结束都可以用手指在触摸屏上进行操作。
描电镜和透射电镜对样品的要求
1、扫描电镜
扫描电镜制样对样品的厚度没有特殊要求，天津三维重构，可以采用切、磨、抛光或解理等方法将特定剖面呈现出来，从而转化为可以观察的表面。这样的表面如果直接观察，看到的只有表面加工损伤，一般要利用不同的化学溶液进行择优腐蚀，才能产生有利于观察的衬度。不过腐蚀会使样品失去原结构的部分真实情况，同时引入部分人为的干扰，对样品中厚度的薄层来说，三维重构价格，造成的误差更大。
2、透射电镜
由于透射电镜得到的显微图像的质量强烈依赖于样品的厚度，三维重构机构，因此样品观测部位要非常的薄，例如存储器器件的透射电镜样品一般只能有10～100nm的厚度，这给透射电镜制样带来很大的难度。初学者在制样过程中用手工或者机械控制磨制的成品率不高，一旦过度削磨则使该样品报废。透射电镜制样的另一个问题是观测点的定位，一般的制样只能获得10mm量级的薄的观测范围，这在需要分析的时候，目标往往落在观测范围之外。目前比较理想的解决方法是通过聚焦离子束刻蚀(FIB)来进行精细加工。
扫描电镜和透射电镜的区别
扫描电镜和透射电镜的工作原理
从相似点开始， 这两种设备都使用电子来获取样品的图像。他们的主要组成部分是相同的;
· 电子源;
· 电磁和静电透镜控制电子束的形状和轨迹;
现在转向这两种设备的差异性。 扫描电镜（SEM）使用一组特定的线圈以光栅样式扫描样品并收集散射的电子（ 详细了解SEM中检测到的不同类型的电子 ）。
而透射电镜（TEM）是使用透射电子，收集透过样品的电子。 因此，透射电镜（TEM）提供了样品的内部结构，如晶体结构，形态和应力状态信息，而扫描电镜（SEM）则提供了样品表面及其组成的信息。
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第6年
