的x射线荧光测厚仪-一六仪器(在线咨询)-荧光测厚仪

江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们***的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名***通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪

一六仪器  X荧光光谱测厚仪

镀层分析X射线荧光光谱特点

     1.镀层分析快速、无损，的x射线荧光测厚仪，对样品无需任何处理。一般测试一个点只需要数10S-1分钟，分析精度高。

     2.可测试超薄的镀层。

     3.可测试多镀层，分析精度远远高于其他测量方法。

     4.可分析合金镀层厚度。如果合金镀层成分稳定，选择合适的对比分析样品，就可以准确的分析出合金镀层的厚度。

     5.对于样品可进行连续多点测量，适合分析镀层的厚度分布情况，并可以对样品的复杂面进行测量。

     6.对分析的多镀层每层之间的材料，要求有明显的区别

     7.不可以测试超厚样品，普通金属镀层总厚度一般不超过40微米。

     8.可以对***样品进行测试

     9.属于对比分析仪器，测试不同的镀层样品需要不同发镀层标样

江苏一六仪器  X射线荧光镀层测厚仪

性能优势：

   下照式设计：可以快速方便地定位对焦样品。

   无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，凹槽深度范围0-90mm。

   微聚焦射线装置：可检测面积小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件。

   jie shou 器：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性。

   EFP***算法软件：多层多元素，甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。

统计计算功能平均值、标准偏差、相对标准偏差、max值、min值、数据变动范围、CP、数据编号、CPK、控制上限图、控制下限图数据分组、X-bar/R图表直方图数据库存储功能

-系统安全监测功能Z轴保护传感器样品室门开闭传感器操作系统多级密码操作系统:操作员、分析员、工程师-任选软件统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书液体样品分析，如镀液中的金属元素含量材料鉴别和分类检测材料和合金元素分析***检测。

一六仪器 ***测厚仪 多道脉冲分析采集，***EFP算法  X射线荧光镀层测厚仪

应用于电子元器件，LED和照明，家用电器，通讯，汽车电子领域.EFP算法结合***定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

这些方法中***种是有损检测，荧光x射线镀层测厚仪，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有***源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。

随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米，荧光测厚仪，精度可达到1%，有了大幅度的提高。它适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，荧光测厚仪，是工业和科研使用***的测厚仪器。采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材，检测速度快，能使大量的检测工作经济地进行。