X荧光膜厚仪-膜厚仪-一六仪器(查看)

江苏一六仪器  珠宝、首饰X荧光光谱测厚仪

仪器配置

微聚焦X射线装置

信号放大器

微型移动滑轨

十二元素片

如果膜厚测试仪已经进行了适当的校准，所有的测量值将保持在一定的误差范围内；根据统计学的观点，一次读数是不可靠的。因此任何由膜厚测试仪显示的测量值都是五次“看不见”的测量的平均值。这五次测量是在几分之一秒的时间内由探头和仪器完成的。

膜厚测试仪测量时间的选择：测量时间越长稳定度越好，一般来说，单镀层不小于15秒，双镀层和合金比例测量时间不少于30秒钟，三镀层测量时间不少于45秒，镀液主离子浓度测量时间在30～60秒之间。

江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。拥有***的技术，XRAY膜厚仪，***的良将，镀层分析膜厚仪，能够***各种涂镀层、膜层的检测难题欢迎来电咨询！

卫浴板件类镀层光谱测厚仪

仪器配置

微聚焦X射线装置

信号放大器

微型移动滑轨

十二元素片

标准片Ni/Fe 5um

标准片Au/Ni/Cu 0.1um/2um

膜厚测试仪的此类校准适用于N型测头，膜厚仪，并使用特殊的校准标准片。

1.必须使用一试片法。

2.使用标有“铜上镀铬”字样的特殊标准片。

说明：在温度变化极大的情况下，如冬季或盛夏在室外操作时，应在与待测箔厚度接近的标准片上进行校准。校准时的环境温度应与使用时的环境温度一致。

江苏一六仪器  ***涂镀层厚度检测  卫浴类X荧光镀层测厚仪

影响膜厚仪的因素有哪些

1、磁场

周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作。

2、附着物质

本仪器对那些妨碍测量头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此，必须清除附着物质，以保证仪器测量头和被测试件表面直接接触。

3、测量头压力

测量头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定。