x荧光膜厚仪-膜厚仪-一六仪器(查看)

江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。我们***的研发团队研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪，稳定的多道脉冲分析采集系统、***的解谱方法和EFP算法结合***定位及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。

选择膜厚测量仪须知

根据测量原理，涂层厚度计通常有五种类型：

1、磁性厚度测量：适用于测量磁性材料上非磁性层的厚度。一般来说，磁性材料是沧州瓯钢、铁、银和镍。

2、涡流厚度测量：适用于测量导电金属上的非导电层的厚度。这种方法比磁厚度测量精度低。

3、超声波厚度测量：目前国内尚没有用这种方法测量涂层厚度。国外一些厂家也有这种仪器，多层涂敷厚度测量的应用是上述两种方法无法测量的情况。但一般价格昂贵，测量精度不高。

4、电解厚度测量方法：此方法不同于上述三种，不属于NDT，需要破坏涂层。一般精度不高。

5、辐射厚度测量：该仪器非常昂贵（通常超过10万元人民bi），适用于某些特殊场合。

江苏一六仪器  超微电子元器件芯片高精度镀层测厚仪

技术参数：

元素分析范围：氯（CI）-铀（U）

厚度分析范围：各种元素及有机物

一次性同时分析：23层镀层，24种元素

厚度***di检出限：0.005um

***xiao测量面积:0.002m㎡

膜厚仪一般来说和涂层测厚仪是一类产品。

膜厚仪一般是测氧化膜层厚度，常见的铝基，铜基氧化，测量时候用涂层测厚仪选择N（非磁性）探头，这样测铝基等氧化层也称为膜厚仪。

涂层测厚仪正常情况下有两种测量原理，配F合N探头，或者FN一体探头。氧化层一般是几微米到十几微米，但是普通的涂层测厚仪误差比较大，需要用高精度的涂层测厚仪测量氧化层，比如中科朴道的PD-CT2涂层测厚仪就可以测量氧化层。

江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。我们***的研发团队具备十年以上的从业经验，膜厚仪价格，经与海内外多名***通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。

膜厚测量仪探头使用问题

在检测胶片厚度的过程中经常发现芯的磨损更厉害，有些可以说是严重损坏。

首先，磨损作为探针在使用中是一种正常现象。但是，如果用户注意他们的特点，他们的服务寿命将延长。常见的问题是，在测量中，由于向下的测试，用户倾向于较低地tui下桥墩，并且很容易引起探头头部的故障很长一段时间。

使用探针的正确方法是将探针轻轻地压在被测工件的一厘米表面上，因为探针在设计中建立了一个感应压力弹簧，只是轻轻按压。

另一点，膜厚仪，在反复运动的过程中探测，容易敲击、碰撞和碰撞其他物体，也容易造成头部损坏，沧州欧谱，x荧光膜厚仪，因此如果工作条件允许，测量头可以固定，工件将被测量到接触。CT探头，从而减少探头凸点。在另一种情况下，每当测量一个点时，有必要在不拉平的情况下提起探头，以减少芯部的磨损。

***，探头必须远离强磁场，以免改变探头的固有频率，使探头无法工作。适当的操作将延长仪器的使用寿命。