残余应力测量结果偏小？可能是样品固定方式不对。

在X射线衍射法（XRD）残余应力测量中，获得准确结果的核心前提是：在测量过程中，样品相对于测量点（X射线入射点）的位置必须保持绝对稳定，且样品本身不能发生任何额外的弹性或塑性变形。样品固定方式不当，恰恰会破坏这两个关键条件，导致测量结果系统性偏低（甚至出现与预期符号相反的应力值），原因如下：

1.引入虚假位移/应变：

*刚性不足与支撑不良：如果样品固定不牢或支撑不足（尤其是对于薄板、细长杆、复杂形状件），在测量过程中，样品本身的自重或轻微的外力（如操作振动、探头接触）可能导致样品在测量点处发生微小的弯曲、下垂或翘曲。这种位移会改变晶面间距的测量值。

*局部夹持效应：如果夹具在夹持点施加了过大的力，或者夹持点离测量点太近，夹持力本身可能引起测量点附近的局部弹性甚至塑性变形。这种变形会叠加在残余应力上，干扰测量。

2.导致应力释放或重分布：

*不恰当的约束：错误的固定方式（如过度约束某些自由度）可能人为地阻止了样品中残余应力的自然释放趋势，或者改变了应力分布状态。例如，在切割或线切割取样的样品中，边缘可能存在较大的应力梯度。不恰当的夹持可能阻止了这部分应力的部分释放，导致测量点（通常在中心）的应力值不能代表真实状态。

*引入外部应力：夹具本身施加的力（夹紧力、支撑反力）会在样品中引入新的、非原有的应力场。这些应力场会与残余应力场耦合，导致衍射测量到的晶格应变是两者共同作用的结果，而非纯粹的残余应力。

3.影响衍射峰质量：

*振动：固定不稳固的样品在测量过程中容易发生微振动。这种振动会导致衍射峰展宽、峰位模糊或漂移。软件在拟合峰位时，可能无法准确定位真正的峰顶，导致计算出的晶格应变（进而应力）出现偏差，通常表现为测量值偏低或离散度大。

*局部变形：夹持点附近的塑性变形会改变该区域的微观结构（如产生位错），可能影响衍射强度或峰形，间接影响应力计算精度。

常见的错误固定方式及其后果：

*支撑不足（尤其对薄件）：样品中部悬空或支撑点太少、支撑面不平整。后果：测量点处因自重下垂，产生附加的拉应变（或抵消原有的压应变），导致测得的压应力值偏低（甚至变为拉应力）或拉应力值偏高。

*夹持力过大或位置不当：用虎钳、C型夹等工具在测量点附近大力夹紧。后果：在夹持点产生塑性压痕，引入巨大的局部压应力，并可能使测量点区域发生弹性弯曲变形，严重扭曲真实残余应力值，通常表现为测量值偏低且不稳定。

*点接触/线接触固定：仅用几个点或线支撑/夹持样品。后果：接触点应力集中，容易引起局部变形和应力释放；样品整体稳定性差，易晃动。

*使用粘性过大的胶粘剂：胶固化收缩或本身具有高应力，会传递给样品，干扰测量。

*未考虑样品原始状态：例如，测量大型构件上的局部应力时，切割下来的小块样品在自由状态下可能已经发生了显著的应力释放和变形。如果固定时强行将其“掰平”到某个基准面，相当于引入了新的应力。

如何正确固定样品：

*刚性、稳定、无应力引入：这是最高原则。

*仿形支撑：尽可能使用与样品形状吻合的支撑块或夹具，提供大面积、均匀的支撑，分散应力。对于薄板，尤其需要底部全面积支撑。

*柔性/低应力夹持：使用弹性垫片、低夹持力的柔性夹具（如真空吸盘、磁性夹具-若适用）或点接触力可控的夹具。避免在测量点附近施加夹持力。

*多点、均匀支撑：增加支撑点数量，确保支撑稳固且不会引起新的变形。

*验证稳定性：测量前后，用百分表或激光位移传感器检查测量点是否有位移。在测量过程中观察衍射峰是否稳定（峰位、峰形、强度）。

*最小化干预：尽量不改变样品在自由状态下的形状。对于已释放变形的样品，测量和报告时应注明其状态（如“自由状态”或“约束状态”）。

结论：

样品固定方式是残余应力XRD测量中极易被忽视却至关重要的环节。不当的固定会通过引入位移、额外应力、振动或改变应力状态等途径，系统性地导致测量结果偏低、失真或离散度增大。务必根据样品的几何形状、刚度和残余应力水平，精心选择和设计无应力、刚性稳固的固定方案，并在测量前后验证其稳定性，这是获得可靠残余应力数据的基础保障。