PET膜膜厚测试仪主要采用的是光学测量原理，其中白光干涉原理是一种常见且精确的方法。
白光干涉测厚仪是一种非接触式的测量设备，它利用白光干涉现象来精确测量物体的厚度。在测量PET膜厚度时，首先需要将PET膜样品放置在测厚仪的测量台上，确保样品表面平整。随后，仪器会通过光学系统发出一束白光，这束光会照射到PET膜上，并与膜表面的反射光线形成干涉。这些干涉光信号随后被接收器捕获，并通过干涉图案的变化来进行分析计算，从而得出PET膜的厚度。
白光干涉测厚仪具有高精度和重复性的优势，能够为PET膜的厚度测量提供可靠的数据。其测量原理基于光的干涉现象，通过精确控制和分析干涉图案的变化，可以实现对膜厚度的精确测量。
此外，这种测厚仪还具有非接触式的特点，避免了传统接触式测量可能带来的损伤和误差。同时，其操作简便、测量速度快，适用于大规模生产和质量控制的需求。
综上所述，PET膜膜厚测试仪主要采用白光干涉原理进行测量，通过非接触式的方式实现对膜厚度的精确、快速测量，为PET膜的生产和应用提供了重要的技术支持。
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