英飞思科学:石有分析仪介绍
石有分析仪是一种用于检测岩石组成和性质的设备。它通过使用不同的化学和物理方法来确定岩石中的元素、矿物和化合物含量,以及岩石的物理性质(如密度、硬度等)。这些信息对于地质学家来说非常重要,因为它们可以帮.. 全文
请问:X荧光光谱仪ED‐XRF 的标准曲线法是什么? 想知道
X荧光光谱仪 (2) 测量镀层厚度,为求准确好购买标片建档. 如果需要管控 PCB 中有害物质,可以粉碎后混测,也可购买有面扫描功能的仪器,扫描后再确定哪个点可能有问题,后再准确定量。 全文
X射线荧光测定为什么X射线含量时样片厚度有影响?有人知道吗?
X射线荧光测定(1) 有的手持式的在头部装有一个校正的样品,同时在不用的时候也可以保护X射线发射源。(2) 铜块作用一是作能量校正,二是在不测其它样品时挡住窗口起保护作用。 全文
铝矾士分析仪介绍
铝矾士分析仪是一种用于检测和分析铝矾土特性的仪器,包括取样、研磨、破碎、筛分等步骤。该设备可快速准确地测定出样品中的二氧化硅(SiO2)、三氧化二铁(Fe2O3)、氧化钙和镁的含量以及烧失量和高岭土等.. 全文