楼主请问:X荧光光谱仪ED‐XRF 的标准曲线法是什么?
X荧光光谱仪(1) 要分清楚关注的对象,荧光分析仪较常见的两类为膜厚仪与元素分析仪,其针对的目标不同。如测厚度一般可以采用薄膜 FP 法或薄膜检量线法,测元素则用块体 FP 法与块体检量线法。 全文
英飞思科学:XRF介绍
X射线荧光(X-ray Fluorescence,XRF)是一种基于物质吸收和散射X射线的非破坏性分析技术。XRF仪器通过发射高能X射线照射样品表面,激发样品原子内部电子跃迁产生二次X射线,然后测量二.. 全文
金属检测EDX设备的工作原理是什么? 感谢回答
金属检测原理:通过高压产生电子流达到光管中靶材产生初级光,初级光经过过滤和聚集射入到被测样品产生次级X射线,也就是我们通常所说的X荧光,X荧光备探测器探测到后经过放大,数模转换输入到计算机,计算机后计.. 全文
敢问大家,光谱仪请问波长散射型和能量散射型的区别是什么?
光谱仪(1) 能散和波散的区别应该先从 X 射线性质说起:X 射线作为电磁波的一种具有明显的波、粒二项性。波具有波长、频率,还有反射、折射、衍射等性质,粒子具有质量、速度、动能、势能等性质。以此两个不.. 全文