请问谁知道：X荧光光谱仪荧光光谱仪基本校正方法是什么?

光谱仪(1) 要分清楚关注的对象，荧光分析仪较常见的两类为膜厚仪与元素分析仪，其针对的目标不同。如测厚度一般可以采用薄膜 FP 法或薄膜检量线法,测元素则用块体 FP 法与块体检量线法。 全文

edxPb的La线除了因为As的干扰外，还会受到BiLa或者CrKaSUM的干扰。 全文

光谱仪 (2) 测量镀层厚度,为求准确好购买标片建档. 如果需要管控 PCB 中有害物质，可以粉碎后混测，也可购买有面扫描功能的仪器，扫描后再确定哪个点可能有问题,后再准确定量。 全文

矿石分析仪的价格因仪器类型、品牌和功能等因素而异。一般来说，普通的普通型矿石成分测定仪报价在**150-398万左右**；而对于级的全自动岩石矿物分析系统价格则要更高一些，大约在672.4w元左右（具.. 全文