楼主请问:X荧光光谱仪ED‐XRF 的标准曲线法是什么?
X荧光光谱仪(1) 要分清楚关注的对象,荧光分析仪较常见的两类为膜厚仪与元素分析仪,其针对的目标不同。如测厚度一般可以采用薄膜 FP 法或薄膜检量线法,测元素则用块体 FP 法与块体检量线法。 全文
光谱仪EDX9000B能检测元素的范围有多少? 还请不吝赐
光谱仪可以。单镀层,双镀层及多镀层样品;而且,一次测量中测试所有镀层厚度,测试速度快,测试结果准确方便。 全文
帮忙一下,X荧光光谱仪仪器使用和操作软件有没有复杂吗?
X荧光光谱仪可以。单镀层,双镀层及多镀层样品;而且,一次测量中测试所有镀层厚度,测试速度快,测试结果准确方便。 全文
英飞思科学:XRF介绍
XRF,即原子发射荧光分析法(X-ray fluorescence analysis),是一种常用的材料检测手段。它通过高能x射线照射样品,激发出原子的内层电子从而产生各种元素的特征光谱,利用标准谱图.. 全文