问一下：X荧光光谱仪EDXRF 测试的不确定度问题是什么?

问一下：X荧光光谱仪EDXRF 测试的不确定度问题是什么?: http://www.tz1288.com/ask/5945231.html

X荧光光谱仪X 射线是一种电磁波，波长比紫外线还要短，为 0.001‐ 10nm 左右。X 射线照射到物质上面以后，从物质上主要可以观测到以下三种 X 射线。荧光 X 射线、散射 X 射线、透过 X 射线，ESI英飞思NT 产品使用的是通过对一种荧光 X 射线的测定，从物质中获取元素信息（成分和膜厚）的荧光 X 射线法原理。物质受到 X 射线的照射时，发生元素所固有的 X 射线（固有 X 射线或者特征 X 射线）。荧光 X 射线装置就是通过对该 X 射线的检测而获取元素信息。
X荧光光谱仪(1) 工作曲线法就是利用标准样品先建立一条标准的校正曲线，测试时再根据这个曲线计算测量结果。用已知浓度的几个标准样品测强度,得到一系列相应的强度信号 ,强度和浓度对应形成一系列的点,通过软件拟合成一条标准曲线，测试样品时,仪器测试到一个信号强度,对应这条曲线,可以知道对应的浓度. (2)标准工作曲线法相对 FP 法来说确度较高，但是由于仪器本身存在背景强度，导致低于背景强度的样品出现负值，标准品及强度漂移影响曲线的度、曲线的检出限及曲线上限问题。
X荧光光谱仪(1) 要分清楚关注的对象，荧光分析仪较常见的两类为膜厚仪与元素分析仪，其针对的目标不同。如测厚度一般可以采用薄膜 FP 法或薄膜检量线法,测元素则用块体 FP 法与块体检量线法。

光谱仪分析它的结构是什么样子的？知道的请回答

光谱仪分析(1) 要分清楚关注的对象，荧光分析仪较常见的两类为膜厚仪与元素分析仪，其针对的目标不同。如测厚度一般可以采用薄膜 FP 法或薄膜检量线法,测元素则用块体 FP 法与块体检量线法。全文
楼主请问：光谱仪EDX设备的工作原理是什么？

光谱仪原理：通过高压产生电子流达到光管中靶材产生初级光，初级光经过过滤和聚集射入到被测样品产生次级X射线，也就是我们通常所说的X荧光，X荧光备探测器探测到后经过放大，数模转换输入到计算机，计算机后计算.. 全文
光谱仪X-ray用气体怎么计数?大侠们，求解

光谱仪不用.X荧光光管是不可以随便关闭的,时间长了你需要重新老化,一般你不用的时候可以把功率降下来:电压20KV,电流10mA. 全文
帮忙一下，荧光光谱分析什么是X荧光光谱仪的重现性?

荧光光谱分析(1) 如果配了液体样品分析装置，可以直接测量；没有的话，可以采取间接的方法，比如把样品吸附到滤纸上测量等等(2) 先的有标准，一般卤水的K、Na、Ca、Mg比较高，要稀释。放入塑料杯.. 全文

天助网首页

问一下：X荧光光谱仪EDXRF 测试的不确定度问题是什么?

光谱仪分析它的结构是什么样子的？ 知道的请回答

楼主请问：光谱仪EDX设备的工作原理是什么？

光谱仪X-ray用气体怎么计数?大侠们，求解

帮忙一下，荧光光谱分析什么是X荧光光谱仪的重现性?

光谱仪分析它的结构是什么样子的？知道的请回答