XRD薄膜检测技术的原理? 有谁可以回答一下吗?
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  • “XRD薄膜检测的操作步骤如下: 1.开实验室电源。 2.打开控制软件:打开桌面的“XG Operation” , 进入“XG control RINT2200 Target:Cu” 窗图。 3.测试样品放置: 压好样品后,把样品放入仪器前,一定要按仪器面板上的“DOOR OPEN”!直到听见断续的“哔、哔、…”蜂鸣声,才可以打开仪器的铁门放置样品,取出样品同样操作,否则,不然会伤害人体!且损害仪器。 4.仪器对样品测试: 打开右系统样品测试控制软件:进入Standard measurement[Right]窗口,注意此窗的Use列:Yes则用此行的测量条件,要求此列别的均为”No”;改好路径名(Folder name)以及文件名(File name);双击Condition列对应行的数字格,则进入该行的测量条件选择,按需求设置好各参数后,点击键,进入执行测量。 5.关机过程:按要求关闭控制软件,过 10分钟后 才能关冷却循环水电源:按“停止”。
  • “1、XRD薄膜检测即X-ray diffraction 的缩写,X射线衍射,通过对材料进行X射线衍射,分析其衍射图谱,获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。 2、X射线是一种波长很短(约为20~0.06埃)的电磁波,能穿透一定厚度的物质,并能使荧光物质发光、照相乳胶感光i、气体电离。在用电子束轰击金属“靶”产生的X射线中,包含与靶中各种元素对应的具有特定波长的X射线,称为特征(或标识)X射线。 3、XRD的基本原理:X射线是原子内层电子在高速运动电子的轰击下跃迁而产生的光辐射,主要有连续X射线和特征X射线两种。
  • XRD薄膜检测原理,是Bragg方程,即nλ=2*d*sinθ,其中λ为入射线波长,d为晶面间距,θ为衍射角.换言之,XRD对于晶体结构的测试才是有效的.因为晶体都会存在其特有的结晶学特征,也就是空间点阵,14种Bravais格子代表了其晶格类型,晶面参数又限定了其结点间的相对数量关系.于是,参考Bragg方程,让X射线通过晶体,只要满足Bragg衍射条件,便能提供晶体内原子排布的信息.所以,不管是采用德拜照相法、衍射仪法等,都会在θ角观测到衍射.当然,也可以说XRD的基础是Laue衍射条件,但其实它和Bragg衍射条件本质是一致的,只是表达不同.
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