半导体测厚仪能测量的厚度是多少?
半导体测厚仪,特别是像E+H Metrology的MX 30系列这样的高精度设备,其测量厚度范围广泛,可以满足多种不同尺寸的晶圆测量需求。这类测厚仪通常用于测量SIC、GaN、GaAS、InP等半导体.. 全文
聚合物膜厚仪的测量原理是?
聚合物膜厚仪的测量原理主要基于光学干涉原理。当一束光照射到聚合物薄膜表面时,部分光会被薄膜表面反射,而另一部分光则会穿透薄膜并在其内部或底层界面上再次反射。这两束反射光在相遇时会发生干涉现象,形成特定.. 全文
透光率用透光率测量仪测可以吗?求解答
透光率也就是我们常说的可见光透过率,表示光线通过介质的能力。测量透光率我们需要用不同原理的透光率测量仪对这些材料的透光率进行测量. 全文
后视镜反射率检测仪是用来干什么用的
后视镜反射率检测仪是一种用于测量后视镜反射光线强度的仪器。它可以用来检测后视镜表面的反射率是否符合标准,以确保后视镜能够有效地反射光线,提供清晰的视野。此外,它也可以用于检测汽车后视镜的表面粗糙度,以.. 全文