帮个忙，荧光光谱分析仪XRF的检测限是多少？

荧光光谱分析仪这是在调研仪器时，仪器公司给我的，与大家分享。A下照射式光谱仪的优点和缺陷：优点：可以分析纯液态样品；样品下表面为分析面，液样受热后产生的气泡对分析无影响。缺陷：分析粉末压片样品时一旦样品破碎，污染检测室、损毁光管！日常分析时碎屑落在光管Be窗上难于处理，不利于仪器维护；B上照射式光谱仪的优点和缺陷：缺陷：不能分析纯液态样品；分析液样只能采用其他方法；优点：有利于仪器维护保养，光管不受损；两类仪器分析精度没有区别。
荧光光谱分析仪(1) 如果配了液体样品分析装置，可以直接测量；没有的话，可以采取间接的方法，比如把样品吸附到滤纸上测量等等(2) 先的有标准，一般卤水的K、Na、Ca、Mg比较高，要稀释。放入塑料杯，下部有几微米的塑料膜，而且用上照射，无须抽真空的XRF。(3) 有两种方法：1.用液体样杯进行测量。2.用滤纸进行测量。
荧光光谱分析仪压片机是通用设备，主要选择操作简单、皮实耐用的，压力能满足你的样品，配置符合你仪器的模具，选电动的。

谁能回答！X荧光光谱请问为什么端窗的要用高电阻纯水？？

X荧光光谱(1) 有的手持式的在头部装有一个校正的样品，同时在不用的时候也可以保护X射线发射源。(2) 铜块作用一是作能量校正，二是在不测其它样品时挡住窗口起保护作用。全文
能量色散型X荧光光谱仪ED‐XRF 的标准曲线法是什么?

能量色散型X荧光光谱仪(1) 要分清楚关注的对象，荧光分析仪较常见的两类为膜厚仪与元素分析仪，其针对的目标不同。如测厚度一般可以采用薄膜 FP 法或薄膜检量线法,测元素则用块体 FP 法与块体检量线法.. 全文
谁能帮助我！光谱仪请问，可以测镀层吗？大侠们，求解

光谱仪原理：通过高压产生电子流达到光管中靶材产生初级光，初级光经过过滤和聚集射入到被测样品产生次级X射线，也就是我们通常所说的X荧光，X荧光备探测器探测到后经过放大，数模转换输入到计算机，计算机后计算.. 全文
楼主请问：光谱仪要求是100PPM以下,可以测吗?

光谱仪100PPM以下的铅含量完全可以测，当然不能太小，比如几个PPM就比较难测了，想对其有个准确的定量必须买标样，标样里面肯定有铅. 全文

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