半导体XRD检测技术的原理？有人知道吗？

半导体XRD检测主要用于物相分析，另外结晶度，全谱拟合，晶粒大小，晶胞参数，应力应变等也可以用它来分析。
半导体XRD检测原理，是Bragg方程，即nλ=2*d*sinθ，其中λ为入射线波长，d为晶面间距，θ为衍射角。换言之，XRD对于晶体结构的测试才是有效的。因为晶体都会存在其特有的结晶学特征，也就是空间点阵，14种Bravais格子代表了其晶格类型，晶面参数又限定了其节点间的相对数量关系。
半导体XRD检测典型应用可以分为如图1所示的六大类：（1）晶体结构的确定和修正；（2）点阵常数的测定；（3）物相定量分析；（4）获得键长键角信息；（5）应力应变分析；（6）其他。

XRD残余应力价格需要多少？教期待大神解答

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求帮助！XRD残余应力检测基本检测项目有？

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朋友们，单晶XRD检测机构怎么选择呢？

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半导体XRD检测机构需要怎么合作？哪位大神能告诉我？

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