麻烦请教各位!XRD晶粒尺寸检测技术的原理?
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  • “1、XRD晶粒尺寸检测即X-ray diffraction 的缩写,X射线衍射,通过对材料进行X射线衍射,分析其衍射图谱,获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。 2、X射线是一种波长很短(约为20~0.06埃)的电磁波,能穿透一定厚度的物质,并能使荧光物质发光、照相乳胶感光i、气体电离。在用电子束轰击金属“靶”产生的X射线中,包含与靶中各种元素对应的具有特定波长的X射线,称为特征(或标识)X射线。 3、XRD的基本原理:X射线是原子内层电子在高速运动电子的轰击下跃迁而产生的光辐射,主要有连续X射线和特征X射线两种。
  • XRD晶粒尺寸检测主要用于物相分析,另外结晶度,全谱拟合,晶粒大小,晶胞参数,应力应变等也可以用它来分析。
  • XRD晶粒尺寸检测典型应用可以分为如图1所示的六大类:(1)晶体结构的确定和修正;(2)点阵常数的测定;(3)物相定量分析;(4)获得键长键角信息;(5)应力应变分析;(6)其他。
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