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半导体XRD测试的分析方法？大家可以说一下吗？

半导体XRD测试的分析方法？大家可以说一下吗？
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  • 半导体XRD测试可以从以下步骤简单分析： 1、定性分析（XRD的主要功能），通过八强峰匹配标准pdf卡片，得知样品是由哪些物质构成的。 2、通过看峰宽等来分析结晶度，峰越尖锐，结晶度越好。 3、看信噪比，信噪比越高，说明这张XRD图拍得越好，越精i确。 当然，还有许多信息，包括物质晶系、晶胞参数、各物质定量分析、等，但是那个不是简单分析了。
  • 半导体XRD测试主要用于物相分析，另外结晶度，全谱拟合，晶粒大小，晶胞参数，应力应变等也可以用它来分析。
  • 半导体XRD测试典型应用可以分为如图1所示的六大类：（1）晶体结构的确定和修正；（2）点阵常数的测定；（3）物相定量分析；（4）获得键长键角信息；（5）应力应变分析；（6）其他。
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