问一下：X射线荧光测定为什么X射线含量时样片厚度有影响？

光谱仪分析(1) 要分清楚关注的对象，荧光分析仪较常见的两类为膜厚仪与元素分析仪，其针对的目标不同。如测厚度一般可以采用薄膜 FP 法或薄膜检量线法,测元素则用块体 FP 法与块体检量线法。 全文

XRF光谱测金仪是一种基于X射线荧光原理的设备，用于测量样品中元素的含量。这种设备的价格因型号、品牌、功能等因素而异。一般来说，价格在几千到几十万元之间。对于一些基本型号的产品，其价格可能在几千元至数.. 全文

光谱仪(2) 分辨率是检测器的问题.对于 ESI英飞思 的仪器而言,照射面积增大,效果比较好一点,比如说 可调光斑面积的 X 射线系统,1MM 光斑的测试效果比 5MM 的测试效果差很多。 (3.. 全文

荧光光谱分析仪金属总是定量测不准，而且偏差较大，特别是cd和pb。请问这是标准曲线做的不好或者制样有问题，还是仪器本身的限制。(1) 测金属的干扰项比较多吧,应该是偏差大的原因之一(2) 基体是影响分.. 全文