帮忙一下，半导体XRD测试原理是什么？

半导体XRD测试原理，是Bragg方程，即nλ=2*d*sinθ，其中λ为入射线波长，d为晶面间距，θ为衍射角。换言之，XRD对于晶体结构的测试才是有效的。因为晶体都会存在其特有的结晶学特征，也就是空间点阵，14种Bravais格子代表了其晶格类型，晶面参数又限定了其节点间的相对数量关系。
半导体XRD测试常规扫描可以知道晶体的物相，用高温附件可知道在温度变化情况下的物相变化。小角衍射可知道粘土等层状材料的层间距，掠入射模式可测得纳米薄膜材料厚度，还有些特殊工具可测晶体的残余应力、织构信息等。通过对XRD结果分析，还可以测得晶体掺杂情况、物相占比情况等等。
半导体XRD测试典型应用可以分为如图1所示的六大类：（1）晶体结构的确定和修正；（2）点阵常数的测定；（3）物相定量分析；（4）获得键长键角信息；（5）应力应变分析；（6）其他。

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XRD检测原理是什么？教期待大神解答

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谁能回答！AlGaN材料XRD一般需要多少钱？

现如今，互联网快速发展的时代，大多数的交易都是在网上进行，但是一家企业的实力如何，实地勘察尤为重要，现场考察不仅可以了解企业的实际情况，更可以和销售人员面对面的交流，还可以去AlGaN材料XRD工厂参.. 全文

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