光谱仪分析什么是 X 射线荧光分析? 急需赐教
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  • 光谱仪分析(1) 能散和波散的区别应该先从 X 射线性质说起:X 射线作为电磁波的一种具有明显的波、粒二项性。波具有波长、频率,还有反射、折射、衍射等性质,粒子具有质量、速度、动能、势能等性质。以此两个不同物理性质研发的研究波长的 X 荧光光谱仪叫波长散射型荧光光谱仪,研究能量的 X 荧光光谱仪叫能量散射型荧光光谱仪。 (2)波长色散X射线荧光光谱像原子的发射\吸收光谱仪一样,是需要单独的色散光学系统分辨不同的特征 X 射线激发的二次荧光光谱,然后才由辐射检测器(比如正比计数器\半导体检测器等)检出;而能量色散型 X 射线荧光光谱仪不象前者需要单独色散系统,它的二次荧光光谱色散及检出都是由辐射检测器根据其不同的能量值将其检出并放在计算机或者单片机内。

  • 光谱仪分析 (2) 测量镀层厚度,为求准确好购买标片建档. 如果需要管控 PCB 中有害物质,可以粉碎后混测,也可购买有面扫描功能的仪器,扫描后再确定哪个点可能有问题,后再准确定量。

  • 光谱仪分析皮革鞣制中经常会加入铬鞣剂,因铬盐能赋予成革柔软、丰满、高强度、耐储存、耐水洗、不易褪鞣、耐湿热稳定性好等优良性能。但 Cr6+对人体与自然环境有害,需要被管控。是否可以由 X 射线荧光分析得出 Cr6+含量呢,由荧光分析原理可知,X 射线荧光分析仪是基于不同元素的荧光射线能量不同,元素价态对其影响小,普通的分析仪不可区分价态,其所测 Cr 为总铬,包含各个价态,因此,精分析需要借助于化学方法。

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